ATECLOUD 智能云測試平臺是有納米軟件開發的一款以無代碼架構與彈性擴展體系為核心的自動化測試平臺，通過數據模型驅動的創新設計，為研發、產線等多場景提供高效可控的測試解決方案。?

無代碼架構
ATECLOUD 打破傳統技術壁壘，構建完全可視化的無代碼開發環境。用戶無需編程，通過拖曳文字指令即可快速搭建測試流程：?
零代碼入門：可視化界面配合智能引導，測試人員、質量工程師甚至業務人員均可獨立完成流程設計，徹底消除技術門檻。?
數據模型驅動：將復雜測試邏輯轉化為可配置的數據節點，實現儀器控制、數據采集、流程調度的無縫銜接，較傳統代碼開發效率提升70%以上。?
全流程閉環管理：覆蓋項目方案搭建、實時參數調整、自動化報告生成，形成端到端測試生命周期管理。?

靈活可擴展
平臺采用 “積木式” 設計，通過靈活調整擴展滿足不同場景需求：?
功能模塊層：提供儀器指令庫、算法維護、數據報告等標準化模塊，支持測試報告一鍵導出，快速擴展基礎功能。?
系統集成層：開放API接口，實現與 MES、ERP 等企業系統的數據互通，構建分布式測試集群。

可視化管控復雜測試流程?
作為平臺核心，智能工作流引擎通過圖形化界面實現多層級流程編排：?
儀器協同：支持主流品牌型號儀器兼容，做到即插即用，可靈活添加設備連接拓撲圖，實時監控狀態，解決多品牌儀器聯動難題。?
數據處理：內置循環算法、閾值判斷等 12 種數據節點，支持數據生成與智能分析，滿足精密測試場景的數據處理需求。?
閉環控制：通過實時反饋實現 “測試 - 分析 - 調整” 自動化循環，在產線測試中可實時優化良率，減少人工干預。?

ATECLOUD 針對不同業務場景提供差異化解決方案：?

1. 高精度研發測試?
   支持皮安級電流測量、納秒級時間同步等精密控制，內置誤差補償算法，適用于芯片可靠性測試、新能源電池 BMS 驗證等場景，保障研發階段的精準性。?
2. 高效率產線測試?
   具備多工位并行測試、節拍優化算法，自動生成數據控制報告，滿足消費電子全檢、汽車零部件自動化測試線等需求，提升批量測試效率。?
3. 智能化運維?
   測試數據云端存儲與AI分析，支持故障診斷、儀器健康度預測，助力遠程實驗室管理與跨地域數據中臺建設，實現測試體系智能化升級。
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企業級價值：降本、提效
成本優化：無代碼開發降低人力成本，設備利用率提升使總體擁有成本降低 40%-60%。?
效率提升：流程搭建周期縮短 60%，自動化覆蓋率達 90%，交付周期壓縮 30% 以上。
質量升級：標準化流程避免人為誤差，數據可追溯性 100%，缺陷發現率提升 25%。?
技術沉淀：構建企業級測試資產庫，將核心邏輯轉化為可復用數字資產，形成組織級測試能力壁壘。?