【CS創世SD NAND征文】存儲芯片在工業電表中的應用與技術演進
- 1.工業電表的市場背景
- 2.技術方案分析
- 3.核心技術特性
- 3.1.主控芯片:APM32F465VET6
- 3.3.存儲芯片:CSNP4GCR01-DPW
- 3.3.1. 基本概述
- 3.3.2. 核心特性
- 3.3.3. 優勢特點
- 3.3.4 四大管理算法
- 4.存儲芯片性能實測
- 4.1.讀寫性能
- 測試數據為64MiB
- 測試數據為128MiB
- 4.2.參數說明
- 1. SEQ1M Q8T1
- 2. SEQ1M Q1T1
- 3. RND4K Q32T1
- 4. RND4K Q1T1
- 4.3 數據總結
- 5.行業展望
1.工業電表的市場背景
近年來,工業電表市場正加速從傳統計量設備向智能化、網絡化方向升級。根據行業研究數據顯示,2022年全球智能電表市場規模已達到約120億美元,并呈現持續增長態勢,預計到2028年將突破180億美元,年均復合增長率(CAGR)顯著。這一增長主要受全球智能電網建設、工業4.0推進及碳中和政策驅動,其中工業領域的高精度智能電表需求尤為突出。
市場現狀:
- 智能化滲透:工業場景中,支持物聯網(IoT)和遠程監控的智能電表占比快速提升。
- 能效管理需求:企業對用電數據的實時分析需求推動高端工業智能電表普及。
- 區域差異:歐美市場以存量替換為主,亞太地區(尤其中國)因新能源項目加速成為增長主力。
2.技術方案分析
在工業控制設備的設計中,極海半導體的APM32工業級微控制器因其出色的性能和穩定性被廣泛采用。極海主控芯片配置強勁,功耗低,能保障設備長時間穩定運行。其豐富的外設接口,如UART可實現與其他模塊的串行通信,SDIO、SPI、I2C接口方便接入各類傳感器與執行模塊,極大拓展了設備功能。
傳統方案中,大容量存儲一般都是使用TF卡或SD卡的方案。但是工業設備的使用場景具有高振動、溫度變化大、長時間連續運行等特點,這就對存儲方案的可靠性有了更高的要求。由于TF卡屬于可插拔式接口,在工業場景下極易因振動造成接觸不良,導致數據丟失或系統故障。在我們這個方案中,將TF卡的方案替換為了CS創世SD NAND,SD NAND芯片是出廠時直接焊接到電路板上的,從根本上解決了接觸不良的問題。
功能 | CS品牌SD NAND | TF |
---|---|---|
生產便利可靠性 | 可SMT機貼,生產直通率高;焊接牢固 | 只能手工焊接;生產效率低;T卡和卡座之間容易脫落 |
尺寸大小 | 6*8mm,占用面積僅為使用TF卡四分之一;無結構件,容易實現防水,小巧的產品 | 配合卡座占用面積:13*15mm占用面積大,且不好做防水 |
產品定位 | 定位核心存儲芯片;內置在PCB板上;要求高可靠性,高一致性;對芯片良率要求很高 | 定位消費類產品的外置模組;可用即可;出現不良通過換貨解決 |
內部晶圓 | 內部使用原廠SLC NAND晶圓擦寫壽命可達5-10萬次,是TLCNAND的100-200倍 | 大部分使用TLC NAND,擦寫壽命只有500次左右,而且市面上產品質量參差不齊,混雜使用Down Grade甚至ink Die;擦寫壽命更低 |
使用材質 | 芯片內部使用芯片級黑膠體,邦線,基板,與TF卡使用材質完全不同 | 只測試基本功能 |
出廠標準差異 | 出廠標準嚴苛,需要通過高溫回流焊,隨機掉電,高低溫冷熱沖擊等測試 | 只要能滿足SD協議即可。對內部晶圓,控制,固件不做特別要求,發生變更不會通知客戶 |
一致性 | 一致性高;統一的晶圓,統一的控制器和固件;如果發生變更會及時通知客戶 | 只要能滿足SD協議即可。對內部晶圓,控制,固件不做特別要求,發生變更不會通知客戶 |
經過一系列市場調研和技術分析,最終我們選用了創世SD NAND:CSNP4GCR01-DPW作為我們的存儲芯片,它可以通過SPI/SD接口直連極海主控芯片。此外它支持免驅動,接上就能使用,內置的壞塊管理程序可確保數據安全存儲,完美切合我們的產品需求。
該存儲芯片采用工業級工藝,LGA-8封裝,尺寸僅6x8mm,內置SLC晶圓,擦寫壽命高達10萬次,并通過1萬次隨機掉電測試,支持溫度范圍-40°C~85°C。讀寫速度快,完全滿足工業設備的數據存儲需求。標準的SD 2.0協議使得用戶可以直接移植標準驅動代碼,省去了驅動開發環節。支持TF卡啟動的SOC都可以直接使用該SD NAND,并提供STM32參考例程及原廠技術支持。
此外,設備還配備各種工業接口模塊,負責數據采集、信號處理等功能;顯示模塊在主控芯片控制下呈現設備狀態信息;各類傳感器實時采集現場數據給主控芯片,處理后的關鍵數據存至存儲芯片長期保存。
在選型時,極海主控芯片的高性能與豐富資源契合工業設備需求,CSNP4GCR01-DPW SD NAND的小巧尺寸、工業級可靠性及4Gb大容量,與主控芯片完美配合,構建出穩定高效的技術方案,為工業設備可靠運行提供堅實保障。相比傳統TF卡更穩定,比eMMC更具成本優勢,是工業存儲應用的理想選擇。
3.核心技術特性
3.1.主控芯片:APM32F465VET6
極海APM32工業級微控制器:APM32F465VET6作為核心控制單元,基于 Arm? Cortex?-M4F 內核打造,專為高可靠的工業級嵌入式存儲場景優化。其 168M主頻結合SD/eMMC接口,可實現sd nand存儲芯片的持續讀寫速度,確保工業級數據吞吐效率。
3.3.存儲芯片:CSNP4GCR01-DPW
3.3.1. 基本概述
- 型號:CSNP4GCR01-DPW
- 類型:NAND FLASH(兼容SD協議的貼片式TF卡)
- 容量:4Gb(512MB)大容量。
- 封裝:LGA-8(常見為8引腳,緊湊型設計,適合空間受限場景)。
3.3.2. 核心特性
- 接口協議:
- 兼容SD 2.0標準,支持SPI模式或SD模式,便于與主流MCU連接。
- 存儲介質:
- 采用SLC NAND,提供高可靠性和均衡擦寫壽命。
- 性能參數:
- 讀寫速度典型值約10-20MB/s(依賴主控和接口模式)。
- 擦寫次數:通常10萬次以上(SLC方案更優)。
- 內置控制器:
- 集成Flash管理功能(壞塊處理、ECC糾錯、磨損均衡),簡化開發。
3.3.3. 優勢特點
-
免驅動:
即貼即用,直連SD/SPI接口即可使用,已內置Flash管理程序 -
可貼機:
生產效率高/焊接穩定,LGA-8封裝,機貼手貼都方便 -
小尺寸:
尺寸小巧(6*8mm),助力產品顏值提升 -
擦寫壽命長:
擦寫壽命長(內置SLC晶圓,擦寫壽命可達5-10萬次,為嵌入式而生) -
穩定可靠:
穩定可靠:已通過10k次隨機掉電高低溫沖擊測試。內置FW包含平均讀寫,壞塊管理,垃圾回收等處理機制
3.3.4 四大管理算法
-
平均讀寫算法:
NAND Flash的塊存在擦寫壽命的限制。在有擦寫動作時,SDNAND會調用平均讀寫算法,避免只擦寫某一部分物理塊。從而達到整體物理塊的可用壽命一致。提高SDNAND整體使用壽命和穩定性。 -
自帶校驗算法:
NAND Flash在存儲數據時存在位反轉和位偏移現象。因此數據在寫入NAND Flash后需加上校驗位。當數據出現錯誤時,SDNAND先會調用錯誤探測算法(EDC)發出提示,然后調用錯誤糾正算法(ECC)對錯誤數據進行修復。 -
電荷散射算法:
NAND Flash如果對集中的物理塊進行擦寫動作,產生的強電場會影響到周邊的塊。SDNAND采用均衡電荷散射算法,可以把擦寫的塊在物理上均勻分布,電場相互抵消,降低擦寫操作對周邊塊的影響。 -
垃圾回收算法:
NAND Flash在更新數據時,新數據會寫入到空白塊中,存儲舊數據的塊會被標識為垃圾。隨著”垃圾數據”的日積月累,SDNAND會主動將有效數據塊搬移,然后執行整個垃圾塊擦除以回收空間。
4.存儲芯片性能實測
本次實測,使用的雷龍發展官方提供的測試板,搭載的芯片是CSNP4GCR01-DPW:一顆標稱容量為512MB的工業級貼片式TF芯片。
4.1.讀寫性能
由于工業電表對于讀寫性能要求還是比較高的。在收到測試板后,第一時間進行了讀寫性能測試。
測試數據為64MiB
測試數據為128MiB
4.2.參數說明
CrystalDiskMark 是一款常用的磁盤性能測試工具,其測試項目中的參數含義如下:
1. SEQ1M Q8T1
- SEQ(Sequential):順序讀寫,測試磁盤連續讀寫大文件時的性能(模擬大文件傳輸場景)。
- 1M:測試使用的數據塊大小為 1MiB(1,048,576字節)。
- Q8T1:
- Q8(Queue Depth 8):隊列深度為 8,表示同時發起 8 個 I/O 請求。
- T1(Thread 1):單線程測試。
- 意義:反映硬盤在高隊列深度、順序讀寫場景下的性能(如拷貝大型視頻文件)。
2. SEQ1M Q1T1
- 參數與上述相同,但:
- Q1(Queue Depth 1):隊列深度為 1(單次 I/O 請求)。
- 意義:測試硬盤在無并發請求、順序讀寫時的性能(更接近日常單任務場景,如加載游戲或啟動系統)。
3. RND4K Q32T1
- RND(Random):隨機讀寫,測試磁盤處理小文件、零散數據的能力(模擬操作系統或數據庫場景)。
- 4K:測試使用的數據塊大小為 4KiB(4,096字節,常見于系統小文件操作)。
- Q32T1:
- Q32:隊列深度為 32(高強度并發請求)。
- T1:單線程。
- 意義:反映硬盤在高并發隨機小文件讀寫下的性能(如數據庫、虛擬機運行)。
4. RND4K Q1T1
- 參數與上述相同,但:
- Q1:隊列深度為 1(單次請求)。
- 意義:測試硬盤在無并發、隨機小文件讀寫時的性能(如日常輕量使用場景)。
測試項 | 數據塊 | 讀寫類型 | 隊列深度 | 線程數 | 典型應用場景 |
---|---|---|---|---|---|
SEQ1M Q8T1 | 1MiB | 順序 | 8 | 1 | 大文件連續讀寫(視頻編輯) |
SEQ1M Q1T1 | 1MiB | 順序 | 1 | 1 | 單任務大文件傳輸 |
RND4K Q32T1 | 4KiB | 隨機 | 32 | 1 | 高負載數據庫/多任務小文件 |
RND4K Q1T1 | 4KiB | 隨機 | 1 | 1 | 日常系統操作(開機/啟動軟件) |
4.3 數據總結
從測試結果可以看到:
- CSNP4GCR01-DPW的順序讀可以達到23MB/s左右,順序寫也可以達到18MB/s上下。
- CSNP4GCR01-DPW的隨機讀可以突破6MB/s,隨機寫也可以達到4MB/s以上。
總的來說,這顆芯片的讀寫速度還是非常優秀的,完全可以滿足電表集中器的存儲需求。
5.行業展望
工業電表正站在智能化與可持續發展的交匯點上。隨著工業4.0、智能電網和碳中和政策的加速落地,電表的功能將從單純的計量工具進化為能源管理的核心樞紐。未來,邊緣計算、AI算法和物聯網技術的深度集成將推動電表實現數據實時分析、遠程運維和碳足跡追蹤等能力。同時,高可靠性存儲方案(如雷龍的CSNP4GCR01-DPW)和高性能主控芯片(如極海APM32F465VET6)的普及,尤其是工業級的存儲解決方案,是確保設備在復雜工業環境下的穩定運行的重中之重,將會為工業數字化轉型提供堅實基礎。主要體現在三大方向:
- 數據安全與穩定性:工業場景需應對高溫、振動、電磁干擾等極端條件,傳統插拔式存儲因接觸不良導致的故障率難以滿足需求,而貼片式SLC NAND通過固態封裝、內置壞塊管理算法,將可靠性提升至工業級標準(10萬次擦寫壽命)。
- 實時性與容量升級:工業電表需長期存儲高頻采集的用電數據(如電壓、電流、諧波等),并支持遠程傳輸與AI分析。未來存儲芯片將向大容量(GB級)、低延遲(支持隨機讀寫4MB/s以上)方向發展,同時兼容高速接口(如SD 3.0或UHS-I)。
- 國產化替代加速:本土廠商在SLC NAND領域實現技術突破,逐步替代海外品牌,推動供應鏈自主可控。預計到2028年,工業存儲芯片國產化率將顯著提升,降低設備成本。
未來,工業存儲芯片的競爭將聚焦于長壽命SLC NAND的工藝優化(如提升晶圓良率)、嵌入式管理算法創新(如動態磨損均衡、智能糾錯)以及定制化封裝設計(適應工業設備小型化需求)。隨著亞太地區新能源項目和制造業升級的推進,工業存儲芯片市場有望以年均15%以上的增速增長,成為半導體產業中最具潛力的細分賽道之一。
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