ICT模擬零件測試方法–晶體管測試

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晶體管測試

i3070 在線測試軟件為每個晶體管提供兩種測試：

• 使用二極管測試對晶體管的兩個 PN 結進行測試。這是檢查設備存在的快速可靠的方法。
• 第二種測試通過測量兩種不同發射極電流值下的基極電流來計算 npn 和 pnp 晶體管的增益。增益測試被軟件標注為注釋。

您可以移除增益測試的注釋，也可以選擇性地注釋掉二極管測試。晶體管的模擬測試模塊還包括一個帶有名稱但沒有測試限制的 npn 或 pnp 晶體管測試語句。這確保了為增益測試分配了測試頭資源。請注意，增益測試不會自動生成目標文件；如果移除注釋進行增益測試，您還必須編譯它以生成可執行的目標文件。

本節介紹：

• 晶體管測試配置
• 晶體管測試注意事項
• 晶體管語句語法
• 晶體管測量選項

晶體管測試配置

要將晶體管視為二極管進行測試，晶體管按照二極管測試的方式連接到 MOA 電路中。要測試晶體管的增益，則按照圖 1 所示將晶體管連接到 MOA 電路中。源 S 總線通過電阻器連接到被測設備的發射極。檢測器 I 總線連接到晶體管的基極。保護 G 總線連接到集電極。

晶體管測試配置

晶體管測試注意事項

對發射極施加 DC 電流 idc，并測量 MOA 的輸出。然后將施加的電流減少指定百分比 idelta，然后再次測量 MOA 輸出。這兩個值用于計算被測設備的 DC 增益。

必須在測試語句中指定 idc 和 idelta 選項。系統會選擇正確的源電阻和參考電阻。idc 的范圍是 100uA 到 150 mA。idelta 的范圍是 5 到 50%。如果未指定 idelta，系統使用 20%。

不同類型晶體管配置的唯一區別是 DC 電流的極性。正電流應用于 npn，而負電流應用于 pnp。不過，您無需在 idc 語句中指定極性，因為 npn 和 pnp 語句會自動選擇它。

晶體管語句語法

npn <hi>,<lo>npn <hi>,<lo>,<return>npn <hi>,<lo>,<options>npn <hi>,<lo>,<options>,<return>npn <designator>,<hi>,<lo>npn <designator>,<hi>,<lo>,<return>npn <designator>,<hi>,<lo>,<options>npn <designator>,<hi>,<lo>,<options>,<return>

pnp 語句執行 pnp 晶體管測試：

pnp <hi>,<lo>pnp <hi>,<lo>,<return>pnp <hi>,<lo>,<options>pnp <hi>,<lo>,<options>,<return>pnp <designator>,<hi>,<lo>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<return>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<options>pnp <designator>,<hi>,<lo>,<options>,<return>

示例：

clear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"; g to "Q1-C"npn 200, 50, co2.7, idc171.7u, idelta15clear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"diode "emitter", 805m, 600m, idc1.0m, co3.0, ar805mclear connect s to "Q1-C"; i to "Q1-B"diode "collector", 805m, 600m, idc1.0m, co3.0, ar805mclear connect s to "Q1-E"; i to "Q1-B"; g to "Q1-C"!npn "gain", 200, 50, co2.7, idc171.7u, idelta15npn "gain"

晶體管測量選項

i3070 在線測試軟件基于其對被測電路的分析為 npn 和 pnp 測試選擇測量選項。您可以選擇：

• 更改選項或它們的值以提高測試性能
• 手動編寫在線測試

如果未指定選項，系統使用默認參數。表 1 列出了 npn 和 pnp 選項及默認值。

請注意，ASRU 加速（as）選項不適用于晶體管測試。

表 1 npn 和 pnp 語句選項

選項	默認值	描述	選項	默認值	描述
co	co10	電壓合規	idelta	idelta20	電流變化
dwa	dwa0	檢測器延遲	pf		通過/失敗
ed		額外數字	sb		感應 B 總線
fi	fi1	濾波	sl		感應 L 總線
idc		DC 電流	wa	wa0	等待