英飛凌針對硬件故障的自測，提供了四種機制：PBIST、LBIST、MONBIST和MBIST。

LBIST和MONBIST我們已經聊過了，今天就快速介紹下MBIST。

MBIST，全程Memory Built-in Self Test，用于檢測SRAM數據單元的完整性。

在26262中，SRAM cell出現錯誤被認為是潛伏故障，而潛伏故障要求至少一個上電周期要完成一次檢測，因此MBIST的使用時機就完全取決于使用者，可以是上電檢測、也可以是下電檢測、甚至可以在程序運行時檢測。

雖然時機隨心所欲，但是做MBIST的時候還需要考慮兩個前置條件：（1）測試前SRAM需要完成初始化，有正確的ECC；（2）SRAM在測試時不允許被訪問。

因此，這就引出了今天的話題，如何測試內核相關的memory。

1. 單核和多核

根據芯片手冊，TC3xx CPU有如下幾類SRAM可供使用：

• P\DSPR：Program\Data?Scratch Pad SRAM，類比ARM內核的TCM；
• P\DCACHE：Progaram\Data Cache
• P\DTAG：Cache相關的Tag SRAM

為了提升效率，我們用到的最多肯定就是PSPR、DSPR等，常規用法：PSPR存放性能要求或者是特定場景的函數，DSPR用于堆棧、CSA或者其他自定義等數據存放；但做mbist的時候被測memory又不能被訪問，這就要求相關memory的CPU需要停下來。

因此，我們需要分多核和單核情況。

多核相對好解決一點，cpu0最先啟動，在它釋放其他core時讓cpu0去測試其他core的memory，如下：

?其他core去測cpu0時，讓cpu0進入ilde即可。代碼如下：

單核的情況說起來也簡單，就是讓CPU在執行測試期間不訪問DSPR和PSPR，在英飛凌的MTU設計中，當我們使能了SRAM的SSH后該SRAM就不能訪問了，

（代碼示例MTU_MEMTEST0.B.CPU0_DMEM_EN = 1;）

這就需要我們在設計鏈接文件的時候要了解DSPR和PSPR具體包含了啥內容，并且在執行上述代碼后就不調用PSPR的函數，也不要使用stack、csa，只用cpu相關寄存器，參考代碼如下：

此外，為防止cache訪問，P\D Cache在被測試的時候都需要關閉，參考CPU寄存器PMAxx。

2.MTU中PMEM的特殊處理

在手冊里，有一點我沒有特別想明白，但也是比較關鍵的地方，就是關于PMEM的特殊處理，原文如下：

要完整測試PMEM，就需要執行兩次NDT測試，由寄存器TCCS.TC_TWR_SEL進行管理，如下：

?那代碼中處理也比較方便，偽代碼如下：

if(E_OK == CheckPmem(SramInstanceID))
{MTU_MCx.ECCS.TC_TWR_SEL = 0;triggerTest(SramInstanceID);MTU_MCx.ECCS.TC_TWR_SEL = 1;triggerTest(SramInstanceID);
}

?但有一點一直沒想明白，PMEM包含了PCache和PSPR，DMEM同樣也包含了DCache和DSPR，為啥PEME要特殊對待，DSPR就不用呢？

從MTUTEST寄存器看沒有什么差別呀：

神奇，屬實神奇。?

差不多就到這，拜拜。