軟件多缺陷定位（Multi-Fault Localization）是軟件工程中的一個重要研究方向，旨在同時定位代碼中存在的多個缺陷（Bug）。由于多個缺陷可能相互干擾（如掩蓋錯誤行為），導致傳統單缺陷定位方法效果下降，因此需要針對多缺陷場景的特殊性設計方法。以下是常見的多缺陷定位方法及其技術要點：

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1. 基于頻譜的缺陷定位（Spectrum-Based Fault Localization, SBFL）擴展

• 原理：通過分析測試用例覆蓋的代碼頻譜（如語句執行次數、通過/失敗測試用例的分布）計算代碼實體的可疑度。

• 多缺陷擴展：

  • 多目標優化：將多個可疑位置組合作為候選，使用啟發式算法（如遺傳算法）尋找最優解。

  • 聚類分析：將高可疑度的代碼實體聚類，假設每個簇對應一個潛在缺陷。

• 工具：Tarantula、Ochiai、Jaccard 等指標的改進版本。

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2. 基于