隨著AI技術應用越來越廣，算力需求激增，光通信系統正加速向小型化、高密度、多通道方向演進。硅光芯片、高速光模塊等核心器件內部的光纖通道數量成倍增加，波導結構愈發精細，傳統檢測手段因分辨率不足、效率低下，難以精準定位微米級損傷或耦合失效點，成為制約產品良率和性能的瓶頸。相比于傳統光纖鏈路測量方法（如功率計、插回損儀、紅光筆、光譜儀等），昊衡科技自主研發的OLI光纖微裂紋檢測儀可分布式測量光鏈路中所有位置的回波損耗，實現一鍵掃描，內部結構反射強度的可視化測量。

OLI的核心技術：光學低相干檢測

OLI即Optical Low coherence?Interrogator，其基于光學相干檢測技術（Optical Coherence Detection），通過白光（寬譜光）的低相干性原理，實現了對光纖鏈路和光學器件的亞毫米級空間分辨率探測，靈敏度高達-100dB，可精準捕捉微裂紋、斷點、耦合異常等缺陷。其技術亮點包括：

1.高精度定位

采樣分辨率達1μm，事件點精度達百μm，可清晰呈現光鏈路中每個事件節點（如連接器端面、芯片波導接口）的回波損耗分布，快速鎖定故障位置。

2.分布式測量

OLI區別于傳統的功率指標測量，其最大特點即是可在某一長度范圍內實現分布式強度信號測量，一鍵掃描，可查看最長90cm范圍內每個位置點的反射信號強度，協助客戶判斷待測品中各種精細結構端面異常情況，耦合好壞，微彎損耗，微裂紋點等。

3.快速自動化檢測

升級后的OLI支持多通道測試，并且添加了精準掃描功能，客戶可根據實際需要測量的范圍精準設置掃描位置，2cm長度掃描范圍僅需1.5秒，適配產線高速測量需求，效率提升超80%。同時，設備還開發了遠程數據傳輸功能，可實時傳輸測試數據到客戶自己的云端數據庫，方便出貨調用或后期失效查閱。

4.快速自動化檢測

可對硅光芯片、高速光模塊、光纖連接器、復雜的光路耦合系統等場景進行測量，并可支持FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC等多種接頭類型及端面類型測試。

OLI的優勢：從失效分析到工藝優化

1. 硅光芯片的“全鏈路透視”

硅光芯片作為5G、AI算力的核心載體，其內部光波導與外部光纖的耦合質量直接影響信號傳輸效率。OLI可精準檢測耦合面質量、FA內部裂紋、FA帶纖裂紋及損傷等缺陷，助力優化設計并提升制造良率。

2. 高速光模塊的產線級質控

面對400G/800G光模塊的多通道波分復用架構，OLI可快速掃描模塊內部光纖鏈路，定位微損傷或連接異常。單次點擊測量，同時出所有通道測量結果，方便數據對比和分析。

3. 光纖連接器的精密檢測

隨著光模塊的速率越來越高、光纖鏈路的越來越復雜，光纖連接器早已不再只是傳統的單模單芯了。AI的火熱，使得MPO/MT類光纖連接器出貨量激增，相應的光纖FA轉MPO/MT類跳線也是訂單明顯增加。隨著器件模塊的訂單價值越來越高，客戶對此類連接頭及帶纖的質量要求也越來越高。分布式回損檢測儀（光纖微裂紋檢測儀）的市場將會越來越大。

OLI的應用場景：

1. 研發、制造光連接器或光纖跳線的企業

???在連接器或光纖跳線制造過程中，使用OLI能有效避免一些微小裂紋和細微缺陷，防止長期的產品失效，確保產品質量。

1. 光模塊制造企業

???在光模塊耦合及組裝過后，可使用OLI進行光學鏈路信號測試，作出貨監測，以確保組裝過程中沒有失效。另外，也可用OLI對來料的帶纖跳線進行來料檢驗，以做批量物料的IQC檢驗合格測試。

1. 從事波導結構設計、硅光芯片、光學元件或光路系統的研發制造單位

OLI可通過測量內部光學元件（如透鏡、芯片、波片等）之間的距離及端面反射強度，判斷整個器件或模塊的性能好壞，并隨時調整工藝結構（如耦合間距、鍍膜反射率等）。

總結：

OLI是一款可以有效幫助研發工程師解決設計問題，改進生產以及幫助產線解決自動化測試，提高產線效率的高精度測量設備。隨著光通信市場的不斷擴大，OLI將持續迭代，以更高精度、更大測量范圍應對復雜光器件的檢測需求。昊衡科技始終致力為客戶提供從研發到量產的全生命周期質量保障，助力客戶構建智能化檢測體系。