臺式掃描電鏡（SEM）是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測樣品反射或發射的次級電子、背散射電子、X 射線等信號，來獲取樣品的形貌、結構、組成和分布等信息的儀器。臺式掃描電鏡具有體積小、操作簡單、樣品制備方便、分辨率高、成本低等優點，廣泛應用于材料科學、生命科學、環境科學、工業檢測等領域。

臺式掃描電鏡中的掃描速度和掃描模式是影響圖像質量和分析效果的重要參數，需要根據實驗目的和樣品特性進行合理的選擇。掃描速度是指電子束在樣品表面掃描的速度，通常用掃描線數或掃描時間來表示。掃描模式是指電子束在樣品表面掃描的方式，通常有點掃、線掃和面掃三種模式。點掃是指電子束在樣品表面的一個固定位置進行掃描，線掃是指電子束在樣品表面的一條直線上進行掃描，面掃是指電子束在樣品表面的一個區域內進行掃描。

臺式掃描電鏡中的掃描速度和掃描模式的選擇取決于您的實驗目的和樣品特性。一般來說，有以下幾點建議：

掃描速度：高速掃描適用于快速獲取樣品的大致形貌和結構信息，低速掃描適用于獲取高分辨率和高信噪比的圖像。

掃描模式：點掃適用于對單個位置進行元素分析，線掃適用于對一條線上的元素分布進行分析，面掃適用于對一個區域的元素映射進行分析。

澤攸科技ZEM18臺式掃描電鏡

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